Optisches Messsystem / MessmikroskopHitec
QCM 570
Optisches Messsystem / Messmikroskop
Hitec
QCM 570
Festpreis zzgl. MwSt.
EUR 15
Baujahr
2015
Zustand
Neu
Standort
Chemnitz 

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Daten zur Maschine
- Maschinenbezeichnung:
- Optisches Messsystem / Messmikroskop
- Hersteller:
- Hitec
- Modell:
- QCM 570
- Baujahr:
- 2015
- Zustand:
- neu
- Funktionsfähigkeit:
- voll funktionsfähig
Preis & Standort
Festpreis zzgl. MwSt.
EUR 15
- Standort:
- F.-O.-Schimmel-Str. 3, 09120 Chemnitz, Deutschland

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Technische Details
- Garantiezeit:
- 12 Monate
- Eingangsspannung:
- 230 V
- Messbereich X-Achse:
- 57 mm
- Messbereich Y-Achse:
- 41 mm
- Messbereich Z-Achse:
- 30 mm
- Gesamtbreite:
- 240 mm
- Gesamtlänge:
- 330 mm
- Gesamthöhe:
- 720 mm
Details zum Angebot
- Inserat-ID:
- A21545438
- Referenznummer:
- 3499232
- Aktualisierung:
- zuletzt am 19.03.2026
Beschreibung
HITEC - Messtechnik
QCM 570
Ausstellungsmaschine absolut neuwertig volle Gewährleistung
Baujahr 2015
(UVP 27.000,00)
- für hochgenaue, wiederholbare Messungen von komplexen Werkstücken
- verschiedene telezentrische Objektive
- Kamerasystem USB 3.0 / 5 Megapixel
- automatische Teileprogrammerkennung
M3 Software:
Ihodpsyvur Tofx Ab Rjw
- 23″ Touchscreen
- mit flexibler Tasterbibliothek, Toleranz- und Programmierfunktion
- Optische Anzeige ob Ergebnis Gut/Schlecht mit Tendenzanzeige
- CAD-Export
Messbereich / Bildfeld 57 x 42 mm
Längenmessabweichung 4,5 µm + L/50 (L in mm)
Kamerasystem USB 3.0 / 5 Megapixel
Auflicht 4-Segment LED-Ringlicht
Durchlicht LED
Höhenverstellung 30 mm
Das Messsystem kann jederzeit am Standort Chemnitz besichtigt werden.
QCM 570
Ausstellungsmaschine absolut neuwertig volle Gewährleistung
Baujahr 2015
(UVP 27.000,00)
- für hochgenaue, wiederholbare Messungen von komplexen Werkstücken
- verschiedene telezentrische Objektive
- Kamerasystem USB 3.0 / 5 Megapixel
- automatische Teileprogrammerkennung
M3 Software:
Ihodpsyvur Tofx Ab Rjw
- 23″ Touchscreen
- mit flexibler Tasterbibliothek, Toleranz- und Programmierfunktion
- Optische Anzeige ob Ergebnis Gut/Schlecht mit Tendenzanzeige
- CAD-Export
Messbereich / Bildfeld 57 x 42 mm
Längenmessabweichung 4,5 µm + L/50 (L in mm)
Kamerasystem USB 3.0 / 5 Megapixel
Auflicht 4-Segment LED-Ringlicht
Durchlicht LED
Höhenverstellung 30 mm
Das Messsystem kann jederzeit am Standort Chemnitz besichtigt werden.
Anbieter
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