Unbekannt Komponente

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Baujahr: 2025, Zustand: neu, Röntgeninspektionssystem für mittelgroße Packungen, Beutel. Geeignet für die Erkennung von Fremdkörpern aus Metall, Glas, Stein, Kunststoff, etc. in Nahrungsmitteln oder Non-Food Artikeln. - Spezifikationen: Förderbandbreite: 410 mm; Erkennungsgenauigkeit: Pb ab Ø 0,2 mm, Fe ab Ø 0,28 mm, SUS ab Ø 0,28 mm, nicht metallisch wie Stein, Glas, ab Ø 1,2 mm; Röntgenleistung: 80 kVp, 1,25 mA; Detektorauflösung: 0,4 mm; Röntgenstrahlemissionen: < 1usv/h; Förderbandhöhe: 850 ± 30 mm; Förderbandgeschwindigkeit (produktabhängig): 10 – 100 m/min; Bedienoberfläche: 15" Touchscreen; Software: intellisens®X-ray; Betriebstemperatur: 5 – 35 °C; Ausstoßsystem: entsprechend Anforderungen optional erhältlich; Strom: 220VAC, 50/60Hz; Dimensionen des Systems: L900xB920xH1825 mm; Gewicht: 350 kg. Hedpfxjv Nm Inj Abgsfr Bitte beachten Sie, daß unsere Neupreise häufig unter den üblichen Gebrauchtpreisen liegen. Fragen Sie gern einfach an und nennen Sie uns Ihre Verpackungsaufgabe. - Ab Lager sind i.d.R. immer 30-50 unterschiedliche neue Maschinen sofort verfügbar. Dazu haben wir bei kundenspezifisch herzustellenden Maschinen sehr kurze Lieferzeiten ab ca. 3 Wochen. - Alle Maschinen sind mit voller Garantie erhältlich.

Zustand: defekter Ersatzteilträger (gebraucht), Oxford Instruments Oxford Instruments X-Strata 960 Röntgenfluoreszenzanalysator – Ersatzteilspender / defekt Artikelbeschreibung: Zum Verkauf steht ein gebrauchter Röntgenfluoreszenzanalysator vom Typ Oxford Instruments X-Strata 960. Das Gerät stammt aus einem Laborrückbau und wird ausschließlich als Ersatzteilspender oder für Reparaturzwecke angeboten. Eine Funktionsprüfung wurde nicht durchgeführt – das Gerät gilt daher als defekt im Sinne des Verkaufs. Technische Daten – Oxford Instruments X-Strata 960 (unverbindlich) Merkmal Beschreibung Modell X-Strata 960 Hersteller Oxford Instruments Analysemethode Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) Einsatzbereiche Schichtdickenmessung, Werkstoffanalyse, Edelmetallprüfung Messgeometrie Oben- oder untenstrahlend je nach Konfiguration Strahlungsquelle Röntgenröhre (z. B. Rhodium-Anode), 50–100 W Leistung Detektor Proportionalzähler oder Silizium-Driftdetektor (SDD), je nach Ausführung Messbereich Schichtdicke ca. 0,005 – 50 µm (materialabhängig) Spotgröße ca. 15 μm – 1 mm (je nach Kollimator) Z-Achse Motorisch verfahrbar, bis ca. 230 mm Messhöhe Probenraum (B × T × H) ca. 580 × 510 × 230 mm Probentisch Manuell oder motorisiert (200 × 200 mm oder größer, je nach Ausstattung) Fokussystem Optisch / Laser-Fokus, teils automatisch Betriebssystem Integrierter Industrie-PC mit Windows-basierter Auswertesoftware Spannungsversorgung 220–240 V / 50–60 Hz / ca. 500–800 W Gerätegewicht ca. 150–200 kg (je nach Ausführung) Zustand: gebraucht / defekt / als Ersatzteilspender Lieferumfang: gemäß Abbildungen – ohne Zubehör oder Software Wichtige Hinweise: Verkauf ausdrücklich als defektes Gerät ohne Funktionsgarantie. Der Artikel wird als Ersatzteilspender oder für Bastler angeboten. Keine Gewährleistung auf Funktion, Vollständigkeit oder technische Parameter. Gewerblicher Verkauf unter Ausschluss jeglicher Sachmängelhaftung, gemäß § 447 BGB (Versendungskauf). Lieferumfang: Oxford Instruments X-Strata 960 Alle auf den Bildern erkennbaren Komponenten Hfedpohaapfefx Abger Weitere Teile, Zubehör oder Dokumentation sind nicht enthalten, sofern nicht explizit aufgeführt. Versand & Abholung: Abholung möglich und bevorzugt Borken Versand nach Absprache möglich. (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Baujahr: 2016, Zustand: sehr gut (gebraucht), Automatische Röntgen Inspektion Zur Inspektion von BGA-, QFN-, THT-, LED-, LGA- und weiteren Lötstellen, die sichtbar oder verdeckt sind. Sonstiges: inkl. Offline Station und Repairstation OS: Windows 7 Hjdpfx Abewpuadjgefr Ultra-High Speed Line-Scan CCD Detektoren Prüffläche: 450 mm - 400 mm Bildaufnahme: 2D, 2,5D, 3D (Schichtbilder mit planar CT) LP-Maße: 60 - 450 x 50 - 400 mm AXI-Auflösung: 6 - 30 µm / Px AOI: Sichtfeld Kamera: 42 mm x 42 mm Auflösung: 21 µm Inspektionshöhe: -3 bis 7,5 mm Optik: telezentrisch Transporthöhe: 950 mm +/- 25 mm Schnittstelle: SMEMA Breitenverstellung: automatisch

Baujahr: 2016, Zustand: einsatzbereit (gebraucht), Ein neuwertiges Röntgeninspektionssystem Anritsu steht zur Verfügung. Röntgenleistung: 100W, max. Detektionsbreite: 240mm, max. Detektionshöhe: 120mm, Detektionsgeschwindigkeit von 2kg bis 5kg: 10m-60m/min, Detektionsgeschwindigkeit bis 2kg: 60m-90m/min, Detektionsgeschwindigkeit von 5kg bis 10kg: 10m-40m/min, Gehäusematerial: Edelstahl, Maschinengewicht: ca. 255kg, Betriebsstunden: unter 50h. Die Maschine weist keinerlei Verschleiß am Fördergurt oder an den Strahlenschutzvorhängen auf. Dokumentation vorhanden. Eine Besichtigung vor Ort ist möglich. Hfedpfxjvzr Aus Abgjr

Zustand: gebraucht, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD Röntgendiffraktometer (XRD) Auszug aus dem Servicebericht: Gerät: PANalytical X’Pert PRO MPD Erstellt am: 07.07.2021 Durchgeführte Arbeiten: - Wiederaufstellung und Inbetriebnahme des Systems - Anschluss externer Versorgungsleitungen - Aufwärmphase - Komplette Justage von Goniometer und weiteren Komponenten - Durchführung von Wartung inkl. Austausch defekter Teile Verwendete Ersatzteile: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERY. NI-CD FAN FOR X-CELERATOR UNIT FAN FILTER FILTER, WATER Motor PW3050 („Gerät wurde nicht bei uns im Haus getestet“) Das X’Pert PRO MPD ist ein sehr vielseitiges und leistungsstarkes Röntgendiffraktometer (XRD) zur strukturellen Charakterisierung kristalliner Materialien. – perfekt für reine Forschung ebenso wie für Routineanwendungen in Industrie und Universität. Dank seiner modularen Bauweise, schnellen Detektion, Temperatur und Atmosphärensteuerung ist es sowohl für Routineanalysen als auch für komplexe In-situ-Experimente hervorragend geeignet. Wichtige Merkmale: Unterschiedliche Messgeometrien möglich: Reflexion im Bragg-Brentano (θ–2θ)-Modus Transmissionsgeometrie für Pulver in Kapillaren Optional auch SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) für Nanostrukturen Strahlungsquelle und Detektoren: Meist Kupfer-Anode (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) X’Celerator-Detektor (1D, ultraschnell) für parallele Datenerfassung Modulares System mit PreFIX-Technologie: Schneller Wechsel von Optiken und Probenbühnen ohne Neukalibrierung In-situ Messungen bei hohen Temperaturen: Messungen bis ca. 1200°C möglich Kontrollierte Atmosphäre: Luft, Stickstoff, Sauerstoff (reduzierend eingeschränkt) Typische Anwendungen: Phasenanalyse und quantitative Rietveld-Auswertung Bestimmung von Kristallitgröße, Mikrodeformation, Eigenspannungen In-situ-Untersuchung von Phasenübergängen, Oxidation, Kristallisation etc. SAXS-Messungen zur Analyse von Nanopartikeln, Porenstrukturen Hjdpfswycatex Abgsfr Breites Probenspektrum: Pulver, Dünnschichten, Keramiken, Pharmazeutika, Katalysatoren u.v.m. Technische Daten (typisch) Eigenschaft u. Spezifikation Winkelbereich (20) ca. 0,5° bis 150° Schrittweite bis zu 0,002° oder feiner Goniometer Vertikal, 0–0, Radius ca. 240 mm Temperaturbereich Raumtemperatur bis ca. 1200 °C Atmosphäre Luft, N₂, O₂ (reduzierend eingeschränkt) Detektoren X’Celerator (1D), Proportionalzähler Verbreitung & Einsatzorte: Das X’Pert PRO MPD ist weltweit im Einsatz, z. B. an: Universitäten (ETH Zürich, TU Dresden, Uni Wien) Forschungsinstitute (z. B. Max-Planck-Institute, ICN2, IS2M) Industrie (z. B. Materialentwicklung, Pharma, Chemie) Zustand: gebraucht / used Lieferumfang: (Siehe Bild) (Änderungen und Irrtümer in den technischen Daten, Angaben sind vorbehalten!) Weitere Fragen können wir gerne am Telefon für Sie beantworten.

Zustand: gut (gebraucht), Helmut Fischer Fischerscope Röntgenfluoreszenz Schichtdickenmessung XDL- XYmZ Hfjdpew Hbkdefx Abgor